电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底

电化学（中英文） ›› 2004, Vol. 10 ›› Issue (1): 20-26.

电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底

刘进轩,向娟,田中群,毛秉伟

固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系福建厦门361005 ,福建厦门361005 ,福建厦门361005 ,福建厦门361005

收稿日期:2004-02-28 修回日期:2004-02-28 出版日期:2004-02-28 发布日期:2004-02-28

Substrates Made by Electrodeposition for Measuring Electrical Properties of One Dimensional Nanomaterials

LIU Jin-xuan, XIANG Juan~, TIAN Zhong-qun, MAO Bing-wei Xiamen University, Xiamen 361005, China)

Received:2004-02-28 Revised:2004-02-28 Published:2004-02-28 Online:2004-02-28

摘要/Abstract

摘要： 　应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基底—Au/CuO和HOPG/CuO,并在带导电针尖的原子力显微测量(CT＿AFM)平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法.在大气室温条件下,对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量,结果表明,该碳纳米管呈现金属性.

关键词: 一维纳米材料, CT_AFM, I_E特性曲线, 碳纳米管

Abstract: A method to prepare alternating conducting/insulating substrates by electrodeposition-oxidation was established to facilitate I-E measurements of one-dimensional nanomaterial by CT-AFM. The prepared Au/CuO and HOPG/CuO substrates showed low roughness as well as high uniformity of the alternating conducting/insulating structure, Qualitative I-E measurements were performed on a single carbon nanotube attached to the two above-mentioned substrates, both showing metallic characteristics at room temperature and in air.

中图分类号:

TB383

刘进轩, 向娟, 田中群, 毛秉伟. 电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底[J]. 电化学（中英文）, 2004, 10(1): 20-26.

LIU Jin-xuan, XIANG Juan~, TIAN Zhong-qun, MAO Bing-wei Xiamen University, Xiamen , China). Substrates Made by Electrodeposition for Measuring Electrical Properties of One Dimensional Nanomaterials[J]. Journal of Electrochemistry, 2004, 10(1): 20-26.

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