电化学(中英文) ›› 2023, Vol. 29 ›› Issue (8): 2208111. doi: 10.13208/j.electrochem.2208111
所属专题: “电子电镀及高端制造”专题文章
翟悦晖a, 彭逸霄a, 洪延a,b, 陈苑明c, 周国云a,b, 何为c, 王朋举d, 陈先明e, 王翀a,b,*()
Yue-Hui Zhaia, Yi-Xiao Penga, Yan Honga,b, Yuan-Ming Chenc, Guo-Yun Zhoua,b, Wei Hec, Peng-Ju Wangd, Xian-Ming Chene, Chong Wanga,b,*()
摘要:
铜互连是保障电子设备的功能、性能、能效、可靠性以及制备良品率至关重要的一环。铜互连常通过在酸性镀铜液电镀铜实现,并广泛用于芯片、封装基材和印制电路板中。其中,有机添加剂在调控铜沉积完成沟槽填充、微孔填充以形成精密线路和实现层间互连方面起着决定性作用。添加剂主要由光亮剂、抑制剂和整平剂三组分组成,在恰当的浓度配比下,添加剂对于盲孔超级填充具有协同作用。目前,已报导的文献聚焦于代表性添加剂的超填充机理及其电化学行为,而对于添加剂的化学结构与制备方法鲜有深入研究。本文重点研究了各添加剂组分的制备工艺和快速电化学筛选方法,为电镀铜添加剂的未来发展提供理论指导。