利用导电涂膜直接电解海水法防护生物腐蚀  1.模拟和测量技术

电化学（中英文） ›› 1999, Vol. 5 ›› Issue (3): 299-303.

利用导电涂膜直接电解海水法防护生物腐蚀 1.模拟和测量技术

胡维玲,吴玲玲,周静,李竞新,罗瑾,林仲华

固体表面物理化学国家重点实验室!厦门大学化学系物理化学所厦门361005,固体表面物理化学国家重点实验室!厦门大学化学系物理化学所厦门361005,固体表面物理化学国家重点实验室!厦门大学化学系物理化学所厦门361005,固体表面物理化学国家重点实验室!厦门大学化学系物理化学所厦

收稿日期:1999-08-28 修回日期:1999-08-28 出版日期:1999-08-28 发布日期:1999-08-28

Direct Electrolysis of Seawater on Conducting Film for Microbial Anticorrosion 1. Simulation and Measurement Technique

Hu Weiling Wu Lingling * Zhou Jing Li Jingxin Luo Jin Lin Zhonghua

(State Key Lab. for Phys. Chem. of the Solid Surf., Dept. of Chem., Ins. of Phys. Chem., Xiamen Univ., Xiamen 361005

Received:1999-08-28 Revised:1999-08-28 Published:1999-08-28 Online:1999-08-28

摘要/Abstract

摘要： 基于电化学微探针和微弱信号检测技术，采用四电极体系、双恒电位仪、锁相相关测定系统以及三维微调装置建立模拟和测量系统，将首次实现对利用导电涂膜直接电解海水法防护生物腐蚀中微米尺度内痕量ＣｌＯ－浓度的测量．本文报道了模拟和测量实验的阶段性进展．

关键词: 海水直接电解法, 导电涂膜, 生物防腐, 次氯酸根离子浓度

Abstract: Based on the electrochemical micro probe and the weak signal detection technique, simulated test and measurement system were set up by the use of four_electrode cell(including a micro electrode), bipotentiostat, lock_in amplifier and three_dimensional micro manipulating device. Based on the system, the micrometer scale concentration distribution of trace hypochlorite, which is produced by direct electrolysis of seawater on the conducting film for preventing microbial corrosion has been obtained for the first time. Both relationships between concentration of hypochlorite and its reduction current, which is termed an working curve, and between the reduction current of hypochlorite and measured time are reported.

Key words: Direct electrolysis of seawater, Conducting film, Microbial anticorrosion, Concentration of sodium hypochlorite

中图分类号:

TG174.4

胡维玲,吴玲玲,周静,李竞新,罗瑾,林仲华. 利用导电涂膜直接电解海水法防护生物腐蚀 1.模拟和测量技术[J]. 电化学（中英文）, 1999, 5(3): 299-303.

Hu Weiling Wu Lingling * Zhou Jing Li Jingxin Luo Jin Lin Zhonghua . Direct Electrolysis of Seawater on Conducting Film for Microbial Anticorrosion 1. Simulation and Measurement Technique[J]. Journal of Electrochemistry, 1999, 5(3): 299-303.

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