液-液界面双电层统计力学处理

doi:10.61558/2993-074X.3072

电化学（中英文） ›› 1996, Vol. 2 ›› Issue (2): 180-185. doi: 10.61558/2993-074X.3072

液-液界面双电层统计力学处理

吴金添,陈声培,王辉,苏文煅

厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室　化学系

收稿日期:1996-05-28 修回日期:1996-05-28 发布日期:1996-05-28 出版日期:1996-05-28

Statistical Mechanical Treatment For the Electrical Double Layer at Ities: Analysis of MVN Model

Wu Jintian Chen Shengpei Su Wenduan *

(State Key Laboratory of Physical Chemistry of Solid Surface Department of Chemistry, Xiamen Univ., Xiamen, 361005, China

Received:1996-05-28 Revised:1996-05-28 Online:1996-05-28 Published:1996-05-28

摘要/Abstract

关键词: ITIES, 界面双电层, 内层微分电容, 统计力学, 巨正则系综

中图分类号:

O645.1

吴金添, 陈声培, 王辉, 苏文煅. 液-液界面双电层统计力学处理[J]. 电化学（中英文）, 1996, 2(2): 180-185.

Wu Jintian Chen Shengpei Su Wenduan. Statistical Mechanical Treatment For the Electrical Double Layer at Ities: Analysis of MVN Model[J]. Journal of Electrochemistry, 1996, 2(2): 180-185.

导出引用管理器 EndNote|Ris|BibTeX

链接本文: https://electrochem.xmu.edu.cn/CN/10.61558/2993-074X.3072

https://electrochem.xmu.edu.cn/CN/Y1996/V2/I2/180

[1]	方亚辉, 刘智攀. 固液界面双电层的理论计算模拟[J]. 电化学（中英文）, 2020, 26(1): 32-40.
[2]	詹东平, 吴秉亮. 二苯并18冠6促进钾离子在微液-液界面上的迁移反应[J]. 电化学（中英文）, 2002, 8(3): 252-256.

液-液界面双电层统计力学处理

Statistical Mechanical Treatment For the Electrical Double Layer at Ities: Analysis of MVN Model

PDF (PC)

可视化

摘要/Abstract

引用本文

使用本文

参考文献

相关文章 2

Metrics