电化学(中英文) ›› 1996, Vol. 2 ›› Issue (2): 180-185.
吴金添,陈声培,王辉,苏文煅
Wu Jintian Chen Shengpei Su Wenduan *
摘要: 应用巨正则系综统计法处理液/液界面(ITIES)双电层体系。根据MVN模型,假定溶液中离子可穿入界面内层(定向溶剂分子层),由体系(内层)巨正则配分函数导出内层微分电容(C1)统计表达式,拟合计算C1随该层表面电荷密度(σm)变化关系。理论同时表明,C1与σm涨落存在确定关系
中图分类号: